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04/05/2011-NEC marca presença no Seminário Brasileiro de Perícias Papiloscópicas

Companhia apresentará no evento, que acontece nos dias 4 e 5 de maio, solução de identificação biométrica – AFIS – como nova oportunidade de modernização dos bancos de dados do país por meio da regulamentação do Registro de Identidade Civil



A NEC, provedora de soluções convergentes de redes de comunicação e tecnologia da informação, participará da terceira edição do SEBRAPP, Seminário Brasileiro de Perícias Papiloscópicas, que ocorrerá entre os dias 4 e 5 de maio, no Centro de Convenções Parlamundo, em Brasília, DF. O evento é organizado pela Associação Brasiliense de Peritos Papiloscopistas e tem o objetivo de discutir as novas oportunidades que surgirão com a recente regulamentação do Registro de Identidade Civil (RIC) no Brasil.

Na ocasião, a NEC apresentará o Sistema Automático de Identificação de Impressões Digitais (Automated Fingerprint Identification System - AFIS), já que o RIC abre novas oportunidades para modernizar os bancos de dados eletrônicos e ampliar o controle sobre os registros dos cidadãos do país em todo o teritório nacional, aproveitando o tema central do encontro: RIC, a identidade de um povo.

A solução da NEC é baseada na tecnologia biométrica, com um sistema digital voltado para governo e empresas. O objetivo é utilizar esta ferramenta para realizar a unificação dos bancos de dados dos brasileiros de todo território nacional. Além disso, o AFIS permite diversos avanços no que diz respeito à segurança de identidade no meio virtual, facilitando a vida dos cidadãos em variados aspectos. A plataforma pode ser utilizada em sistemas policiais para identificação de pessoas de maneira digital, auxiliando na solução de crimes, por exemplo. No âmbito civil, evita delitos de falsificação na emissão de registros de identidade de documentos, passaportes, habilitação de motorista, entre outros.

A identificação de impressões digitais automatizada está baseada no processamento dos pontos característicos das impressões digitais (chamado minúcias). O sistema proporciona alta precisão, independentemente do tamanho da base de dados. As imagens das impressões digitais são recebidas e o sistema extrai automaticamente as minúcias, classifica os tipos de padrões, realiza a busca na base de dados e reporta o resultado otimizando a intervenção humana nos processos referentes à identificação.

Massato Takakuwa, diretor de negócios para governo da NEC no Brasil, explica que esta é uma oportunidade muito importante para discutir os novos rumos do país após a regulamentação do RIC, além de estimular o desenvolvimento dos profissionais papiloscopistas no Brasil. “Já temos diversos clientes que utilizam essa solução, como a Polícia Civil do Distrito Federal e do Rio Grande do Sul, que já podem contar com a ferramenta eletrônica para auxiliar o trabalho dos peritos na identificação de impressões digitais. Com esta regulamentação, acreditamos que a longo prazo os demais estados do Brasil devem elaborar projetos de implementação do AFIS, e este evento é o momento ideal para disseminar os benefícios deste sistema para os profissinais da área e para o Brasil”, afirma.

Com o conceito de comparação dinâmica, contemplado no trabalho executado pelo AFIS, a NEC conquistou o primeiro lugar no mundo na Avaliação de Tecnologias de Impressões Digitais Latentes (ATIDL), relatório conduzido pelo NIST (Instituto Nacional de Padrões e Tecnologia), órgão que auxilia o Departamento de Segurança Nacional dos EUA.

Serviço:
SEBRAPP – Seminário Brasileiro de Perícias Papiloscópicas

Data: 4 e 5 de maio de 2011
Local: Centro de Convenções Parlamundo
Endereço: SGAS 915 Sul Lotes 75/76 – Brasília – Distrito Federal.

Sobre a NEC Latin America
No Brasil, a NEC oferece soluções de telecomunicações e TI para operadoras, empresas e governo. A NEC também desenvolve no país projetos de broadcasting, integração de sistemas e segurança. Com mais de 40 anos de experiência no mercado local, a empresa é subsidiária integral da NEC Corporation, uma das maiores companhias globais de tecnologia.


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